BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用 引 言 随着科技的不断发展，集成电路的制造工艺和设计水平得到了飞速提高，设计者能够将非常复杂的功能集成到
2009-11-07 11:18
随着当今汽车中芯片数量的快速增长，IC设计人员需要改进流程以满足ISO 26262标准定义的功能安全(FuSa: Function Safety)要求。
2024-01-25 12:38
(SiC)开关。串行外设接口(SPI)通信支持用户可编程工作模式和故障回读。此外还具有BIST功能，使ADuM4177适用于ASIL D系统。
2025-05-29 14:04
通常我们在设计芯片的同时，可以根据芯片本身的特征，额外地把可测性电路设计(Design For Testability)在芯片里。谈到可测性的电路设计，内建自测试(BIST)和基于扫描Scan—Based)的电路设计
2011-06-10 10:13
诊断功能（BIST: built-in self test）的电源监控IC“BD39040MUF-C”。
2019-06-09 16:30
现在，随着FinFET存储器的出现，需要克服更多的挑战。这份白皮书涵盖：FinFET存储器带来的新的设计复杂性、缺陷覆盖和良率挑战；怎样综合测试算法以检测和诊断FinFET存储器具体缺陷；如何通过内建自测试（BIST）基础架构与高效测试和维修能力的结合来帮助保证FinFET存储器的高良率。
2016-09-30 13:48
探针测试；SIP相对SOC的架构；设计人员的新的责任：RF内置自检（BIST）;对于测试系统构架的影响。 系统级测试 现代高集成度的芯片有着射频到比特流（RF-to-bits）或射频到模拟基带的构架。射频部分集成度提高带来最大的冲击之一是测试
2018-06-16 08:55
