在BIST（内建自测试）过程中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测试矢量，从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上，针
2010-12-23 15:35
低成本BIST映射电路的设计与优化_张玲
2017-01-07 21:39
引言大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用
2019-07-19 06:18
1. 为什么S32K344运行 Bist_Run（BIST_SAFETYBOOT_CFG） 进入 Hardfault？ 2. 我正在使用备用 RAM 来存储数据，这会影响 BIST 吗？
2025-04-07 07:02
内置自测（BIST），曾经保留用于复杂的数字芯片，现在可以在许多具有相对少量数字内容的设备中找到。
2019-04-12 14:14
我们现在正在评估 S32K BIST 功能，当 sw 调用 apiBist_Run() 以启动 bist 时，但 mcu 重置。它发生在 Bist
2023-04-14 07:09
利用FPGA可重复编程的特性，通过脱机配置，建立BIST逻辑，即使由于线路被操作系统的重新配置而令BIST结构消失，可测性也可实现。本文给出一种基于BIST利用ORCA（Optimized
2018-11-28 09:02
基于功能复用的抗老化BIST设计_梁华国
2017-01-07 16:00
你好，我无法在我的Ubuntu 14.04 [.2] 64位桌面上运行BIST程序（如xtp242中所指定）。以下是我所做的一些事情： - 从Xilinx购买了Xilinx Zynq-7000
2019-10-08 10:58
在系统层面，BIST功能可用于设计阶段，以表征数字处理器和数据转换器之间的数字接口时序。如果没有BIST，数字接口中的位错误必须通过转换器本底噪声的变化来检测。这种类型的错误检测远不如基于数字
2023-02-01 15:36
