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透射电子显微镜（TEM）样品制备是现代材料科学研究的重要环节。在这一过程中，金鉴实验室凭借其先进的设备和专业的技术团队，能够为客户提供高质量的FIB测试服务，确保样品制备的精确性和可靠性。透射

2024-11-01 14:21 金鉴实验室 企业号

双束聚焦离子束-扫描电镜（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作为一种先进的微观加工与分析技术，广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体研究等领域。其不仅可以制作常见的截面透射

2025-02-28 16:11 金鉴实验室 企业号

对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量TEM样品。

2021-07-14 11:16

什么是FIB？FIB有哪些应用？如何修改线路做FIB？FIB怎么做失效分析？FIB还能生长PAD？

2023-11-07 10:35

在材料分析中的关键作用在材料科学领域，聚焦离子束（FIB）技术已经成为一种重要的工具，尤其在制备透射电子显微镜（TEM）样品时显示出其独特的优势。金鉴实验室作为行业领先的检测机构，能够帮助

2025-01-07 11:19 金鉴实验室 企业号

‍‍‍‍ 聚焦离子束（FIB）在材料表征方面有着广泛的应用，包括透射电镜（TEM）样品的制备。在这方面，FIB比传统的氩离子束研磨具有许多优势。例如，电子透明区域可以高精度定位，研磨时间更短，并且

2024-12-19 10:06

  本文介绍了为什么要用液态镓作为FIB的离子源以及镓离子束是如何产生的。 什么是FIB？ FIB，全名Focused Ion Beam，聚焦离子束，在芯片制造中十分重要。主要有四大功能：结构切割

2024-12-17 11:06

FIB-SEM在材料科学领域的一些典型应用，包括透射电镜( TEM)样品制备，材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积以及材料三维成像及分析等。

2021-04-29 10:54

。   以下是TEM样品制备的主要技术： 1.机械研磨和离子溅射：将样品机械研磨成极薄片,再通过离子溅射进一步变薄至电子穿透可见。适用于硬质材料。 2.聚焦离子束(FIB)加工：利用聚焦离子束对样品表面进行精密切割和薄膜制备,制备出厚度均匀的电子透射薄膜。适用

2024-11-26 11:35

聚焦离子束（FocusedIonBeam，简称FIB）技术是一种精密的微纳加工手段，它通过将离子束聚焦到极高的精度，实现对材料的精确蚀刻和加工。FIB技术的核心在于其能够产生具有极细直径的离子束

2024-12-02 15:25 金鉴实验室 企业号