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双束聚焦离子束-扫描电镜（DualBeamFocusedIonBeam,FIB）作为一种先进的微观加工与分析技术，广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体研究等领域。其不仅可以制作常见的截面透射

2025-02-28 16:11 金鉴实验室 企业号

在材料分析中的关键作用在材料科学领域，聚焦离子束（FIB）技术已经成为一种重要的工具，尤其在制备透射电子显微镜（TEM）样品时显示出其独特的优势。金鉴实验室作为行业领先的检测机构，能够帮助

2025-01-07 11:19 金鉴实验室 企业号

聚焦离子束（FocusedIonBeam，简称FIB）技术是一种精密的微纳加工手段，它通过将离子束聚焦到极高的精度，实现对材料的精确蚀刻和加工。FIB技术的核心在于其能够产生具有极细直径的离子束

2024-12-02 15:25 金鉴实验室 企业号

什么是透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜（TEM）是一种功能强大的分析工具，可分析各种合成材料和天然材料。它能够通过三种不同的分析技术获得固态样品的化学信息：能量色散X射线分析（EDX）、电子

2025-05-09 16:47 金鉴实验室 企业号

。FIB技术的优势1.操作简便性：FIB技术简化了操作流程，减少了样品的前处理步骤，同时降低了对样品的污染和损害。2.微纳尺度加工：该技术能够实现精准的微米及纳米级切割

2024-12-25 11:58 金鉴实验室 企业号

FIB技术的核心价值聚焦离子束（FIB）技术是一种在微纳尺度上实现材料精确加工的先进技术。它通过将离子束聚焦到极高的精度，能够对材料进行纳米级的蚀刻和加工。这种技术的关键在于其能够产生直径极细

2025-03-18 21:30 金鉴实验室 企业号

聚焦离子束（FIB）技术是一种极为精细的样品制备与加工手段，它能够对金属、合金、陶瓷等多种材料进行加工，制备出尺寸极小的薄片。这些薄片的宽度通常在10~20微米，高度在10~15微米，厚度仅为100

2025-04-23 14:31 金鉴实验室 企业号

透射电子显微镜TEM在LED芯片研究中可以提供有关LED芯片结构、膜层厚度、位错缺陷等方面的详细信息。金鉴实验室具备先进的TEM设备和专业的技术团队，能够为客户提供高精度的LED芯片分析服务，确保

2024-11-15 11:11 金鉴实验室 企业号

双束技术：FIB与SEM的协同工作双束聚焦离子束显微镜的关键在于其双束技术，离子束（FIB）用于样品的精确切割和蚀刻，而电子束（SEM）则捕捉样品的高分辨率图像。SEM垂直安装，FIB则以一定角度

2024-12-30 15:31 金鉴实验室 企业号

FIB技术定义聚焦离子束（FocusedIonBeam,FIB）技术是一种先进的微纳加工技术，它利用高度聚焦的离子束对材料进行精确的加工、分析和成像。FIB技术能够在纳米尺度上实现材料的去除、沉积

2024-12-20 12:55 金鉴实验室 企业号