双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-S
2017-06-29 14:08
TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探
2017-06-29 14:20
TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探
2017-06-29 14:24
TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探
2017-06-29 14:16
金鉴检测双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构的服务发布时间：2017-04-26聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为
2017-06-28 16:50
金鉴检测双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构的服务聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FI
2017-06-28 16:45
金鉴检测双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构的服务发布时间：2017-04-26聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为
2017-06-28 16:40
）FIB+HRTEM+EDS 半导体薄膜领域 （2）FIB+TEM+EDS 半导体LED领域 （3）磨抛+离子减薄+HRTEM 量子阱领域 （4）FIB+HRTEM+EELS纳米线截面观察及
2020-01-15 23:06
Beam FIB-SEM业务，并介绍Dual Beam FIB-SEM在材料科学领域的一些典型应用，包括透射电镜( TEM)样品制备，材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积以及材料三维成像及分析
2020-01-16 22:02
P FIB 与DB FIB师出同源，最大差异在离子源与蚀刻效率。DB FIB的离子源Ga+容易附着在样品表面，P FIB
2019-08-15 15:57
