`1.设备型号TF20 场发射透射电镜，配备能谱仪 2.原理透射电子显微镜（Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束
2020-01-15 23:06
穿透式电子显微镜TEM穿透式电子显微镜(Transmission Electron microscopy, TEM)主要是一种使用高能量电子束让超薄的样品成像，影像分辨率可达0.1奈米的原子等级
2018-08-21 10:23
【作者】：张可儿;【来源】：《甘肃科技》2010年04期【摘要】：针对超宽带TEM喇叭天线设计中的低频特性差及方向性不集中等关键问题,设计了一种280的阻抗指数型TEM喇叭天线,并在
2010-04-23 11:28
TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一
2017-06-29 14:24
TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一
2017-06-29 14:16
TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一
2017-06-29 14:20
双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品
2017-06-29 14:08
金鉴检测双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构的服务发布时间：2017-04-26聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体
2017-06-28 16:50
金鉴检测双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构的服务聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种
2017-06-28 16:45
金鉴检测双束FIB提供TEM制样、FIB切割、Pt沉积和三维重构的服务发布时间：2017-04-26聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体
2017-06-28 16:40
