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型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW

2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶

2024-02-21 13:50 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、

2024-01-10 11:10 中图仪器 企业号

型号：ADC32RF83IRHT 高速模数转换器 品牌：

电子发烧友芯片ADC32RF83IRHT 高速模数转换器产品介绍产品概述ADC32RF83IRHT是德州仪器（Texas Instruments）推出的一款高性能高速模数转换器（ADC），专为射频

2024-10-15 10:46 深圳市华沣恒霖电子科技有限公司 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆粗糙度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶

2025-06-03 15:52 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D

2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅

2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000无图晶圆厚度翘曲量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各

2025-06-16 15:08 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000无图晶圆粗糙度测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化

2024-05-29 11:10 中图仪器 企业号

型号：VT6000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器VT6000有图晶圆共聚焦高精度测量显微镜是基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，用于对各种精密器件及材料表面

2024-08-12 16:01 中图仪器 企业号