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型号:WD4000 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TT
2024-02-21 13:50 中图仪器 企业号
反应表面形貌的参数。通过非接触测量,WD4000无图晶圆几何形貌测量设备将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆
2024-01-10 11:10 中图仪器 企业号
型号:原理<b class='flag-s-7'>图</b>Jupiter 品牌:
Jupiter是为昕板级EDA全流程方案中的原理图工具。采用全新的先进数据架构,大幅提升产品性能,满足日益复杂的电子系统设计需求。Jupiter通过智能化的符号库管理、结构化设计引擎、网络分析等核心
2022-04-11 13:47 上海为昕科技有限公司 企业号
型号:Model Inspector — <b class='flag-s-7'>软件</b>模型静态规范检查<b class='flag-s-7'>工具</b> 品牌:
Model Inspector (MI)原厂商是韩国 Suresoft,是 KOLAS 公认测评机构,旨在提升安全关键领域软件可信度。 MI 用于开发过程中模型
2022-04-22 13:54 经纬恒润 企业号
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
型号:WD4000系列 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
中图仪器WD4000无图晶圆粗糙度测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化
2024-05-29 11:10 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D
2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅
2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆几何参数测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bo
2024-11-25 16:13 中图仪器 企业号