SiC作为半导体材料的历史不长，与Si功率元器件相比其实际使用业绩还远远无法超越，可能是其可靠性水平还未得到充分认识。这是ROHM的SiC-SBD可靠性试验数据。
2023-02-08 13:43
ROHM针对SiC上形成的栅极氧化膜，通过工艺开发和元器件结构优化，实现了与Si-MOSFET同等的可靠性。
2023-02-24 11:50
SiC MOSFET AC BTI 可靠性研究
2023-11-30 15:56
以特斯拉Model 3为代表的众多电动汽车量产车型成功应用SiC MOSFET芯片，表明SiC MOSFET在性能、可靠性和综合成本层面已得到产业界的认可。基于大量的设计优化和
2022-02-18 16:44
MOSFET的栅氧可靠性问题一直是制约其广泛应用的关键因素之一。栅氧层的可靠性直接影响到器件的长期稳定性和使用寿命，因此，如何有效验证SiC MOSFET栅氧可靠性成
2025-03-24 17:43
本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外，包括MOSFET在内的SiC功率元器件的开发与发展
2023-02-08 13:43
日前，在第十届国际第三代半导体论坛（IFWS）上，第三代半导体产业技术创新战略联盟（CASA）发布了9项碳化硅 (SiC) MOSFET测试与可靠性标准，旨在为SiC
2024-11-29 13:47
进行半导体元器件的评估时，电气/机械方面的规格和性能当然是首先要考虑的，而可靠性也是非常重要的因素。尤其是功率元器件是以处理较大功率为前提的，更需要具备充分的可靠性。
2023-02-23 11:24
芯片可靠性测试要求都有哪些？华碧实验室通过本文，将为大家简要解析芯片可靠性测试的要求及标准。
2021-05-20 10:22
英飞凌如何控制和保证基于 SiC 的功率半导体器件的可靠性
2023-10-11 09:35
