摘要：布尔可满足性问题（Boolean Satisfiability Problem，简称SAT问题）是逻辑学和计算机科学中的一个问题，它的目的是确定是否存在一种解释，使给定的布尔公式成立
2023-06-27 09:56
N-Sat110号卫星参数表 110.0E N-Sat110号 接收参数 频道名称 状态 加密方式 VPID APID 语言 更新日期 频道商/地区 12291R28860 tp:2 fec:2/3
2012-08-17 17:52
UAVOS宣布已完成其太阳能SAT-i无人机的飞行试验，该无人机旨在在白天进行监控和航拍。这架新的无人机成功地完成了一次不间断的10小时任务，使用600克无反光镜相机进行航空摄影。
2018-07-19 10:25
集成电路芯片的测试（ICtest）分类包括：分为晶圆测试（wafertest）、芯片测试（chiptest）和封装
2021-07-14 14:31
在IC芯片测试中，芯片测试座起着至关重要的作用。它是连接芯片和测试设备的
2023-07-25 14:02
如何用集成电路芯片测试系统测试芯片老化？ 集成电路芯片老化测试系统是一种
2023-11-10 15:29
电学测试是芯片测试的一个重要环节，用来描述和评估芯片的电性能、稳定性和可靠性。芯片电学
2023-10-26 15:34
为什么需要芯片静态功耗测试？如何使用芯片测试工具测试芯片静态功耗？
2023-11-10 15:36
