摘要：布尔可满足性问题（Boolean Satisfiability Problem，简称SAT问题）是逻辑学和计算机科学中的一个问题，它的目的是确定是否存在一种解释，使给定的布尔公式成立
2023-06-27 09:56
芯片测试的主要目的是确保芯片的质量和可靠性，以及验证芯片的设计是否符合规范和要求。具体来说，测试可以检测出
2024-05-08 16:54
物联网 (IoT） 芯片主要包括传感器芯片、嵌人式处理芯片、无线传输链接芯片等。IoT 芯片的性能/功能
2023-06-08 16:44
集成芯片测试好坏的方法主要包括以下几个步骤。
2024-03-19 16:52
在芯片制造与使用的领域中，静电是一个不容小觑的威胁。芯片对于静电极为敏感，而HBM（人体模型）测试和CDM（充放电模型）测试是评估
2024-12-16 18:07
在芯片制造过程中，测试是非常重要的一环，它确保了芯片的性能和质量。芯片测试涉及到许多专业术语这其中，CP（Chip Pr
2024-10-25 15:13
配备一个由分配电路及组合器电路为特征的双重区域，TS-480HX 可进行高达 200 瓦的 RF 输出（50MHz: 100W），电源为 13.8V 直流电。 TS-480SAT 可输出高达 100 瓦。
2017-12-29 13:34
本文将介绍射频/无线芯片的测试。射频/无线系统会同时包含一个发射器和接收器分别用于发送和接收信号。我们先介绍发射器的基本测试，接下来再介绍接收器的基本测试。
2016-11-25 11:02
