QFN64 MLP64 MLF64 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN64的IC芯片进行烧写、测试，无中心脚 型号 QFN-64B-0.5-01
2019-12-13 14:24
实验简介基于STM32F103C8T6的E01系列（nRF24L01P）和E01C系列（SI24R1）的EBYTE官网例程移植。EBYTE官网例程是基于STM8L151
2024-08-30 12:35 亿佰特物联网应用专家 企业号
QFP100 PQFP100 TQFP100 引脚间距0.5mm 测试座 用于QFP100的IC芯片进行烧写、测试，I
2019-12-02 14:49
TSOP32 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 老化座 用于TSOP32的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽12.4mm 型号 OTS-32-0.5-01
2019-12-18 10:53
QFN48 MLP48 MLF48 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN48的IC芯片进行烧写、测试，有中心脚 型号 QFN-48(56)BT-0.5-01
2019-12-13 14:04
QFN68 MLP68 MLF68 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN68的IC芯片进行烧写、测试，有中心脚 型号 QFN-68BT-0.5-01
2019-12-13 14:19
QFN24 MLP24 MLF24 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN24的IC芯片进行烧写、测试，有中心脚 型号 QFN-24BT-0.5-01
2019-12-10 13:52
QFN24 MLP24 MLF24 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN24的IC芯片进行烧写、测试，无中心脚 型号 QFN-24B-0.5-01
2019-12-10 14:04
QFN20 MLP20 MLF20 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN20的IC芯片进行烧写、测试，有中心脚 型号 QFN-20BT-0.5-01
2019-12-10 13:45
QFN40 MLP40 MLF40 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN40的IC芯片进行烧写、测试，有中心脚 型号 QFN-40BT-0.5-01
2019-12-13 13:52
