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  • MOSFET,IGBT功率器件失效根因分析

    型号:率器件<b class='flag-s-7'>失效</b>根因<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌:广电计量

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    2024-03-13 16:26 广电计量 企业号

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    2024-03-15 17:34 广电计量 企业号

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    型号:LED<b class='flag-s-7'>失效</b><b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌:广电计量

    服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠(COB、LAMP、TOP、CHIP)、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件和集成电路:光电子器件(国家标准)● GB7000系列灯具国家标准(强制性)● GB7000.5道路域街路照明灯具安全要求● GB/T9468-1988道路照明灯具光

    2024-03-15 09:23 广电计量 企业号

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    型号:LED<b class='flag-s-7'>失效</b><b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌:广电计量

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    2024-01-29 22:04 广电计量 企业号

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    服务介绍随着工业生产的迅速发展,客户对高要求产品及工艺理解不一,导致产品的开裂、断裂、腐蚀、变色等失效频繁出现。企业需要分析产品失效的根本原因及机理,从而改进产品工艺,提升产品质量。 测试

    2022-05-25 11:34 广电计量 企业号

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    型号:1.51inch Transparent <b class='flag-s-7'>OLED</b> 品牌:

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    型号:0.96inch <b class='flag-s-7'>OLED</b> Module 品牌:

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    2023-03-04 18:14 斑梨电子 企业号

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    2024-11-18 11:01 广电计量 企业号

  • IC芯片半导体开封试验,专注元器件领域失效检测

    型号:IC芯片开封试验 品牌:广电计量

    开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

    2024-03-14 10:03 广电计量 企业号