(VOS)。 电压失调测量（自测试法） 测量方法与自测试环路相同。看看图 3，其中环路放大器配置为单位增益缓冲器，因此它不会发生振荡或进入电源轨。使用自测试环路方法
2018-09-07 11:04
FLASH芯片的结构与特点FLASH存储器测试程序原理
2021-04-14 06:03
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-6-14 10:25 编辑 eCan 自测试模式下可以产生中断吗？ F2812
2018-06-14 01:20
数据存储器 FLASH程序存储器 FLASH数据存储器 片内RAM数据存储器
2011-11-29 09:50
怎么设计一种面向嵌入式存储器测试和修复的IIP？如何解决设计和制造过程各个阶段的良品率问题？嵌入式存储器测试和修复技术的未来趋势是什么？STAR
2021-04-15 06:05
我修改了add.S文件，想让make run_test SIM=iverilog后出现file.可是编译不了，add.S文件也没显示更新。 可是我在测试自测试用例的时候，make compile
2023-08-12 06:50
8章中提到的寄存器都没有引用这个自测试位。能否指出这个自测试位在哪个寄存器中。＃lsm330dlc自检以上来自于谷歌翻译以下为原文 Hello, For a pro
2019-02-20 06:41
的测试系统应运而生。本文提出了一种多功能存储器芯片的测试系统硬件设计与实现，对各种数据位宽的多种存储器芯片（SRAM、MRAM、NOR FALSH、NAND
2019-07-26 06:53
的测试设计显得尤为重要。对于单片或者数量很小的几片嵌入式SRAM，常用的测试方法是通过存储器内建自测试MBIST来完成，
2019-10-25 06:28
Flash存储器分为哪几类？Flash存储器有什么特点？Flash与DRAM有什么区别？
2021-06-18 07:03
