(VOS)。 电压失调测量（自测试法） 测量方法与自测试环路相同。看看图 3，其中环路放大器配置为单位增益缓冲器，因此它不会发生振荡或进入电源轨。使用自测试环路方法
2018-09-07 11:04
自己做的板子，现在用F28069调试CAN通信，应用controlsuite例程自测试功能，可以运行，收发正常，将自测试改成正常模式，就无法正常工作
2018-09-07 11:24
应用程序: 此示例代码是MA35D1系列微处理器的实时处理器( RTP) 的自测试库。 此库执行芯片的自测试功能, 以满足市场要求的安全要求。 当芯片出现错误时, 可
2023-08-29 07:04
数据存储器 FLASH程序存储器 FLASH数据存储器 片内RAM数据存储器
2011-11-29 09:50
法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。内建自测试 内建
2011-12-15 09:35
8章中提到的寄存器都没有引用这个自测试位。能否指出这个自测试位在哪个寄存器中。＃lsm330dlc自检以上来自于谷歌翻译以下为原文 Hello, For a pro
2019-02-20 06:41
msp430x14x用TINERB产生6路PWM信号，亲自测试可行
2016-07-19 21:52
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-6-14 10:25 编辑 eCan 自测试模式下可以产生中断吗？ F2812
2018-06-14 01:20
Flash存储器是一种基于浮栅技术的非挥发性半导体存储器，一般有NOR、NAND、 DINOR和AND 等几种类型。作为一类非易失性存储器 ,
2020-11-16 14:33
我修改了add.S文件，想让make run_test SIM=iverilog后出现file.可是编译不了，add.S文件也没显示更新。 可是我在测试自测试用例的时候，make compile
2023-08-12 06:50
