内建自测试是一种有效的测试存储器的方法。分析了NOR型flash存储器的
2010-07-31 17:08
MBIST是Memory Build-In-Self Test的简称，意为存储器内建自测试。
2024-05-19 09:14
嵌入式存储器内建自测试的一种新型应用孙华义 郑学仁 闾晓晨王颂辉吴焯焰 华南理工大学微电子研究所广州 510640摘要：当今，嵌入式存储器在SoC 芯片面积中所占的比例
2009-12-20 09:26
嵌入式存储器正逐渐成为SoC的主体结构，对嵌入式存储器进行内建自测试（BIST, Build-in Self-Test）和内建
2011-05-28 16:39
本文就DSP芯片内部自带FLASH提出了一种自测试方法，通过两次烧写FLASH将待测空间的校验和计算出来并计入RAM中事先定义好的变量中，重新编译后生成新的目标码校验和变成第一次校验和
2012-05-16 11:43
芯片间的互连速率已经达到GHz量级，相比较于低速互连，高速互连的测试遇到了新的挑战。本文探讨了高速互连测试的难点，传统互连测试方法的不足，进而介绍了互连内建
2010-07-31 17:00
±50g自测试电路图
2009-07-03 12:03
现在，随着FinFET存储器的出现，需要克服更多的挑战。这份白皮书涵盖：FinFET存储器带来的新的设计复杂性、缺陷覆盖和良率挑战；怎样综合测试算法以检测和诊断FinFET存储
2016-09-30 13:48
、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对FLASH存储器进行高速和细致地测试，因此，高效FLASH
2020-08-13 14:37
UM2986 STM32U5系列IEC 60730自测试库用户指南
2022-11-22 08:21
