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芯片失效分析的关键工具在半导体行业迅速发展的今天，芯片的可靠性成为了衡量其性能的关键因素。聚焦离子束（FIB）技术，作为一种先进的微纳加工技术，对于芯片失效分析至关重要

2024-11-28 17:11 金鉴实验室 企业号

在半导体芯片的研发与失效分析环节，聚焦离子束双束系统（FIB-SEM）凭借其独特的功能，逐渐成为该领域的核心技术工具。简而言之，这一系统将聚焦离子束（FIB）的微加工优势与扫描电子显微镜（SEM

2025-08-14 11:24 金鉴实验室 企业号

通过聚焦离子束直接在材料上进行操作，无需掩模，能够实现纳米级精度的成像和修改，特别适合需要高精度的任务。截面量测以镓离子源为核心，FIB技术通过精确调控离子束与样品

2025-07-24 11:34 金鉴实验室 企业号

在芯片微观加工与分析领域，FIB（FocusedIonBeam，聚焦离子束）作为一种前沿的微观加工与分析技术，近年来在众多领域得到了广泛应用。要深入了解FIB聚焦离子束，首先要从其工作原理入手，进而

2025-08-07 19:54 金鉴实验室 企业号

聚焦离子束（FocusedIonBeam，简称FIB）技术是一种精密的微纳加工手段，它通过将离子束聚焦到极高的精度，实现对材料的精确蚀刻和加工。FIB技术的核心在于其能够产生具有极细直径的离子束

2024-12-02 15:25 金鉴实验室 企业号

FIB技术的核心价值聚焦离子束（FIB）技术是一种在微纳尺度上实现材料精确加工的先进技术。它通过将离子束聚焦到极高的精度，能够对材料进行纳米级的蚀刻和加工。这种技术的关键在于其能够产生直径极细

2025-03-18 21:30 金鉴实验室 企业号

关于解密设备其实是很多种工具，例如我们常常听说到得FIB设备，其实不能说FIB是解密设备，FIB是聚焦离子束设备，是在纳米级的对材料切割和连接的一种仪器，当然在微电子领域应用最多，如果使用

2023-11-08 11:45

聚焦离子束（FIB）技术因液态金属离子源突破而飞速发展。1970年初期，多国科学家研发多种液态金属离子源。1978年，美国加州休斯研究所搭建首台Ga+基FIB加工系统，推动技术实用化。80至90年代

2025-08-19 21:35 金鉴实验室 企业号

聚焦离子束（FocusedIonBeam,FIB）技术是一种强大的微纳加工和分析工具，它利用高度聚焦的离子束对材料表面进行纳米尺度的刻蚀、沉积、成像和成分分析。FIB系统的基础架构聚焦离子束技术

2025-08-21 14:13 金鉴实验室 企业号

FIB技术定义聚焦离子束（FocusedIonBeam,FIB）技术是一种先进的微纳加工技术，它利用高度聚焦的离子束对材料进行精确的加工、分析和成像。FIB技术能够在纳米尺度上实现材料的去除、沉积

2024-12-20 12:55 金鉴实验室 企业号