微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。 1.TEM样品制备 对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量TEM样品。 案例一： 使用Dual Beam
2017-06-29 14:08
纳结构的样品制备，包括：TEM样品制备、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。 1.TEM样品制备 对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量
2017-06-28 16:50
样品制备、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。 1.TEM样品制备 对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量TEM样品。 案例一
2017-06-28 16:45
纳结构的样品制备，包括：TEM样品制备、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等。 1.TEM样品制备 对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量
2017-06-28 16:40
P FIB 与DB FIB师出同源，最大差异在离子源与蚀刻效率。DB FIB的离子源Ga+容易附着在样品表面，P FIB使用Xe可减少样品Ga污染问题。P
2019-08-15 15:57
10微米。 金鉴实验室FIB-SEM技术及应用：1.FIB透射样品制备流程对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FI
2020-01-16 22:02
，但却不知道锡还分为有铅锡与无铅锡两种。下面小捷哥就给大家详细讲述一下有铅喷锡与无铅喷锡的区别。中国IC交易网PCB有铅喷锡与无铅
2019-04-25 11:20
Dual Beam FIB(双束聚焦离子束)机台能在使用离子束切割样品的同时，用电子束对样品断面(剖面)进行观察，亦可进行EDX的成份分析。iST宜特检测具备超高分辨率的离子束及电子束的Dual
2018-09-04 16:33
`Plasma FIB(P-FIB)原理与Dual Beam FIB(DB-FIB)相似，差别如下: [td]离子源Xe（氙离子）PlasmaGa+ (镓离子)蚀刻速率
2018-10-24 11:36
与观察、样品微观刻蚀与沉积等。 1.TEM样品制备 对比与传统的电解双喷，离子减薄方式制备TEM样品，FIB可实现快速定点制样，获得高质量TEM样品。 案例一： 使用Dual Beam
2017-06-29 14:20
