的电性参数发生偏移，扫描链测试失败。这对DFT（Design for Test）以及ATPCJ（Automatic Test Pattern Ceneration）提出了更高的挑战。
2017-11-11 16:20
本文参考银河电气官网：DFT算法与FFT算法的优劣分析DFT与它的快速算法FFT相比可能更有优势,而FFT却存在某些局限性.在只需要求出部分频点的频率谱线时DFT的运算
2014-05-22 20:43
基于反步法的交流电机控制研究交流电机是一种典型的非线性系统,对它的控制研究是当前控制领域中的热点问题,具有深刻的理论和应用意义。反步法是非线性控制发展的最新成果之一,它在设计不确定系统的鲁棒或自适应
2021-08-27 06:37
使用简介二、使用 UART 收发数据1、设置 UART 参数① 单步法（结构体法）② 分步法2、分配引脚，安装驱动二、使用 UART 事件三、自定义 UART 中断一、ESP32 的 UART 概览
2021-12-09 07:52
dft可测试性设计，前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器总结...
2021-07-22 09:10
（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试
2011-12-15 09:32
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本
2021-07-23 07:28
实验二 FFT与DFT计算时间的比较及圆周卷积代替线性卷积的有效性实验：一 实验目的1：掌握FFT基2时间（或基2频率）抽选法，理解其提高减少乘法运算次数提高运算速度的原理。2：掌握FFT圆周卷积
2011-12-29 21:52
描述 此参考设计展示了设计白光 LED 背光驱动器的分步过程，重点说明如何选择元件来实现总电路高度小于 0.7mm 的超薄外形，还提供了有关效率、瞬态运行和运行条件限制的相关数据。特性工作输入电压
2022-09-19 07:46
本帖最后由 mr.pengyongche 于 2013-4-30 03:26 编辑 两单频复指数信号的数字频率分别为π4
2012-11-06 11:47
