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型号：tc wafer 品牌：
晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置一、引言随着半导体
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
型号：RWi-MK3 品牌：尼得科
RWi-MK3 for Wafer产品介绍：RWi-Mk3机型用来检测晶圆上的金、铜、锡凸块高度，凸块直径和表面缺陷。此设备自动检测由晶圆机械手搬运的6/
2022-12-16 17:26 尼得科 Nidec 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
WD4000晶圆厚度测量设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶
2025-06-18 15:40 中图仪器 企业号
型号：XMSEMI-OPTM 品牌：
晶圆外延膜厚测试仪技术点：1.设备功能：• 自动膜厚测试机EFEM，搭配客户OPTM测量头,完成晶圆片自动上料、膜厚检测、分拣下料；2.工作状态：•
2022-10-27 13:43 芯茂（嘉兴）半导体科技有限公司 企业号
型号：jyzjqxj 品牌：
在半导体制造的精密流程中，晶圆载具清洗机是确保芯片良率与性能的关键设备。它专门用于清洁承载晶圆的载具（如载具、花篮、托盘等），避免污染物通过载具转移至
2025-06-25 10:47 芯矽科技 企业号
型号：RTD-12 RTD-<b class='flag-s-7'>8</b> 品牌：瑞乐半导体
RTD Wafer 晶圆测温系统利用自主研发的核心技术将 RTD 传感器集成到晶圆表面，实时监控和记录晶
2025-06-27 10:08 瑞乐半导体 企业号
WD4000晶圆厚度THK几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将
2025-07-10 13:42 中图仪器 企业号
RTD Wafer 晶圆测温系统利用自主研发的核心技术将 RTD 传感器集成到 晶圆表面，实时监控和记录晶
2025-06-27 10:12 瑞乐半导体 企业号
型号：TCW-4 TCW-6 TCW-<b class='flag-s-7'>8</b> TCW-12 品牌：瑞乐半导体
TC Wafer 晶圆测温系统通过利用自主研发的核心技术将耐高温的热电偶传感器镶嵌在晶圆表面，实时监控和记录晶
2025-06-27 10:16 瑞乐半导体 企业号
