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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
中图仪器WD4000晶圆硅片表面3D量测系统采用光学白光干涉技术、精密 Z 向扫描模块和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通过非接触测量，将
2024-10-25 16:46 中图仪器 企业号
型号：SuperViewW系列 品牌：中图仪器
SuperViewW白光干涉晶圆3D形貌测量仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。Supe
2025-04-29 11:31 中图仪器 企业号
型号：BN NANO 品牌：
氮化硼纳米管在TIM中的应用随着电子设备的性能不断提升，芯片的散热问题日益突出。传统的热界面材料（TIM）如热环氧和硅树脂虽成本低，但导热性能有限，已在散热效率上已逐渐接近极限，因此需要
2025-04-07 13:56 义邦新材料 企业号
WD4000系列Wafer晶圆厚度量测系统采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化
2025-05-27 13:54 中图仪器 企业号
型号：SuperViewW1 品牌：
从硅晶圆的制备到晶圆IC的制造，每一步都对工艺流程的质量有着严格的管控要求，作为产品表面质量检测仪器的光学
2022-05-16 16:18 中图仪器 企业号
中图仪器SuperViewW纳米级微观三维形貌3D白光干涉仪主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸
2024-07-25 14:31 中图仪器 企业号
型号：RWi-MK<b class='flag-s-7'>3</b> 品牌：尼得科
RWi-MK3 for Wafer产品介绍：RWi-Mk3机型用来检测晶圆上的金、铜、锡凸块高度，凸块直径和表面缺陷。此设备自动检测由
2022-12-16 17:26 尼得科 Nidec 企业号
型号：<b class='flag-s-7'>3D</b> GMS Pro 轮廓测量仪方案 品牌：
普密斯3D轮廓测量仪方案 3D GMS Pro，拥有高速移动测量平台，兼容多类型传感器，为客户需求提供快速、强力的技术支持！ 产品特点—— 高速移动测量平台龙门架
2023-07-28 15:42 普密斯光学 企业号
型号：高景深<b class='flag-s-7'>3D</b>视频显微镜 品牌：
产品介绍—— 3D视频显微镜有多种3D观察角度：30°，35°，40°，45°，直流伺服马达驱动3D转换镜围绕式样进行360°旋转，实时将图像传导在高清显示器上在线观察。
2023-05-31 15:16 普密斯光学 企业号
。在有效防止晶圆产生划痕缺陷同时实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数测量。WD4000
2024-11-07 13:46 中图仪器 企业号
