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型号:<b class='flag-s-7'>圆柱形</b> 品牌:
产品特长:1、反应速度快,测温精准。2、体积细小,安装方便。3、铜镀镍外壳,经久耐用。应用范例:各种空调、电热水器等。特性参数:1、工作温度范围:-20℃∽150℃。2、热时间常数:约7秒。3、绝缘强度:DC500V 100MΩ。4、耐电压:AC1500V 5秒。
2022-11-25 18:23 蜀商经纬 企业号
型号:WD4000系列 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
中图仪器WD4000半导体晶圆制程几何尺寸量测设备通过非接触测量,将晶圆
2024-10-17 11:22 中图仪器 企业号
型号:MAG10-<b class='flag-s-7'>2</b>R-50.12.25 品牌:
系列优化设计。它具有多种形状和尺寸选择,包括圆柱形、环形和半圆柱形,以满足不同应用的需求。 型号特点 剩磁 (Br): 1.22 T (N35)
2024-06-21 14:28 立年电子科技 企业号
型号:WD4000 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算
2024-02-21 13:50 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶
2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆几何形貌测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立3D Mapping图,实现
2024-01-10 11:10 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆粗糙度测量设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算
2025-06-03 15:52 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量,将晶
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、
2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术,完成非
2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号