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型号:WD4000 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW
2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号
型号:原理<b class='flag-s-7'>图</b>Jupiter 品牌:
Jupiter是为昕板级EDA全流程方案中的原理图工具。采用全新的先进数据架构,大幅提升产品性能,满足日益复杂的电子系统设计需求。Jupiter通过智能化的符号库管理、结构化设计引擎、网络分析等核心
2022-04-11 13:47 上海为昕科技有限公司 企业号
型号:8+128GB、16+256GB 品牌:
双开源的RISC-V和OpenHarmony有望成为数字世界的下一代根技术。为了顺应产业发展需要,进迭时空与中国科学院软件所联合开发了全球首个RISC-V+OpenHarmony5.0原生鸿蒙解决方案。
2025-02-18 16:03 进迭时空 企业号
WD4000无图晶圆几何形貌测量系统是通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可兼容不同材质
2024-02-21 13:50 中图仪器 企业号
型号:WD4000系列 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅
2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000无图晶圆几何形貌量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D
2023-12-14 10:57 中图仪器 企业号
型号:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
中图仪器高精密三坐标设备支持触发探测系统,能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。支持中图Power DMIS、Rational DMIS、ARCOCAD等测量软件,支持中
2025-06-10 11:20 中图仪器 企业号
型号:SuperViewW系列 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
SuperViewW中图仪器光学三维轮廓仪系统以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度
2025-03-05 14:14 中图仪器 企业号
型号:VT6000系列 品牌:中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器
chotest中图仪器非接触式3D共聚焦显微系统VT6000系列以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等,在相同物镜放大的条件下,所展示的图像形态细节更清晰更微细,横向分辨率更高
2024-11-05 14:36 中图仪器 企业号
WD4000无图晶圆厚度翘曲量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到
2025-06-16 15:08 中图仪器 企业号