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2024-08-14 15:29 深圳市欣峰茂科技有限公司 企业号
型号：XMSEMI-OPTM 品牌：
晶圆外延膜厚测试仪技术点：1.设备功能：• 自动膜厚测试机EFEM，搭配客户OPTM测量头,完成晶圆片自动上料、膜厚检测
2022-10-27 13:43 芯茂（嘉兴）半导体科技有限公司 企业号
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WD4000半导体晶圆几何表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过
2025-01-06 14:34 中图仪器 企业号
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从硅晶圆的制备到晶圆IC的制造，每一步都对工艺流程的质量有着严格的管控要求，作为产品表面质量检测仪器的光学3D表面轮廓仪
2022-05-16 16:18 中图仪器 企业号
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2022-08-06 13:36 成兴光电子 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
WD4000晶圆几何形貌测量及参数自动检测机通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算
2023-11-06 10:49 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆多维度表面形貌特征检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算
2024-08-08 15:50 中图仪器 企业号
型号：tc wafer 品牌：
晶圆测温系统，晶圆测温热电偶，晶圆测温装置一、引言随着半导体
2023-06-30 14:57 安徽鼎诺仪器科技有限公司 企业号
中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D
2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维
2024-04-18 09:33 中图仪器 企业号
