图像坏点(Bad pixel) : 图像传感器上光线采集点(像素点)所形成的阵列存在工艺上的缺陷,或光信号进行转化为电信号的过程中出现错误,从而会造成图像上像素信息错误,导致图像中的像素值不准确,这些有缺陷的像素即为图像坏点。
2018-06-12 15:24
由于图像传感器芯片Pixel阵列存在工艺偏差及缺陷,因此会造成图像上部分像素显示错误,这些有缺陷的Pixel点即为图像坏点(Bad pixel)。 对于不同工艺、不同厂家,尤其对于一些低成本、消费类的sensor来说,坏点数会在长时间、高温环境下变得越来越多,严重
2023-12-16 15:32
坏点就是CCD元件上不能成像的点。具体表现就是:每张照片的固定位置出现全白或全黑的斑点,就是CCD元件上不发光或者始终发光的点。这是一个比较严重的问题,严重影响了成像效果,一旦发现坏点是要坚决换机的。
2017-05-26 14:45
FPGA验证和UVM验证在芯片设计和验证过程中都扮演着重要的角色,但它们之间存在明显的区别。
2024-03-15 15:00
随着SystemVerilog成为IEEE的P1800规范,越来越多的项目开始采用基于SystemVerilog的验证方法学来获得更多的重用扩展性、更全面的功能覆盖率,以及更合理的层次化验证结构
2014-03-24 14:07
芯片验证的工作量约占整个芯片研发的70%,已然成为缩短芯片上市时间的瓶颈。应用OVM方法学搭建SoC设计中的DMA IP验证平台,可有效提高验证效率。
2012-06-20 09:03
目前最先进的模拟和射频电路,正广泛应用于消费电子产品、无线通讯设备、计算机和网络设备的SoC中。它们带来了一系列验证方面的挑战,而这些挑战往往是传统SPICE、FastSPICE和射频仿真软件无法
2017-12-08 19:27
验证其实是一个“证伪”的过程,从流程到工具,验证工程师的终极目的都只有一个。
2023-05-31 10:34
采用System Verilog语言设计了一种具有层次化结构的可重用验证平台,该平台能够产生各种随机、定向、错误测试向量,并提供功能覆盖率计算。将验证平台在Synopsys公司的VCS仿真工具上运行
2018-01-12 11:28
两个在质量管理和验证过程中经常使用的术语。以下是它们的区别和关系,包括维基百科的定义、应用和范围: 验证(Verification):根据维基百科的定义,验证是一种评估活动,旨在确认产品、系统或
2023-06-19 10:59