电容-电压(C-V)测量广泛用于测量半导体参数,尤其是MOS CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数,MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线(简称
2024-06-05 11:16 武汉普赛斯仪表有限公司 企业号
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2022-08-03 14:15 深圳市金和信科技有限公司 企业号
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2022-03-08 16:57 北京革新创展科技有限公司 企业号