EMC 静电测试 串口损坏问题 空气放电 接触放电常测试的时候，串口直接死掉，板子还会重启，回来换了232芯片串口正常了，但是选的232芯片是后缀带E的，为什么还过不了测试呢？
2016-09-11 23:34
EMC 静电测试 串口损坏问题 空气放电 接触放电常测试的时候，串口直接死掉，板子还会重启，回来换了232芯片串口正常了，但是选的232芯片是后缀带E的，为什么还过不了测试呢？
2020-05-05 23:36
键盘、鼠标等等，因为USB采用热插拨系统，它极易受到由人体静电或空气放电的影响，造成USB集成电路故障。 现代电脑越来越多的采用低功率逻辑芯片，大多数USB集成电路都是以CMOS工艺为基础设计和制造
2013-12-30 10:09
与插座之间可能存在大量静电荷。如果插人插座的第一个引脚恰巧没有连接齐纳二极管保护电路，栅极上的电荷会穿过氧化层释放而损坏器件。以下四步有助于防止器件在系统装配阶段受损：1. 将未使用的CMOS器件存放
2018-04-04 17:01
，容易造成电子产品和设备的功能紊乱甚至部件损坏。现代半导体器件的规模越来越大，工作电压越来越低，导致了半导体器件对外界电磁骚扰敏感程度也大大提高。ESD对于电路引起的干扰、对元器件、CMOS电路及接口
2020-10-23 09:28
ESD即静电释放，它对于精密半导体芯片会造成各种损伤，例如穿透元器件内部薄的绝缘层；损毁MOSFET和CMOS元件的栅极；CMOS器件中的触发器锁死；造成反向偏置和正向偏置的PN结短路；融化有源器件
2012-12-14 13:10
与插座之间可能存在大量静电荷。如果插人插座的第一个引脚恰巧没有连接齐纳二极管保护电路，栅极上的电荷会穿过氧化层释放而损坏器件。以下四步有助于防止器件在系统装配阶段受损：将未使用的CMOS器件存放于黑色导电
2018-10-29 14:49
时，CMOS器件与插座之间可能存在大量静电荷。如果插人插座的第一个引脚恰巧没有连接齐纳二极管保护电路，栅极上的电荷会穿过氧化层释放而损坏器件。 以下四步有助于防止器件在系统装配阶段受损： 将未
2018-10-22 16:02
噪声干扰。使电路产生误动作，破坏正常的逻辑关系．而且也极易使栅极感应静电造成击穿损坏。所以，对于“与”门、“与非”门 CMOS 集成电路的多余端采取接高电平措施；对于“或”门、“或非”门
2018-12-13 09:47
电脑正常使用，检查硬件均无问题，但是电脑总是死机，查不出什么原因，根据近5年的静电经验来看，怀疑是静电惹得祸，一段时期内频繁出现死机、蓝屏、显声卡驱动莫名丢失、主板CMOS自动清零、显示器产生
2013-01-08 13:35
