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型号：WD4000 品牌：中图仪器

WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量 Wafer 厚度 、表面粗糙度 、三维形貌 、单层膜厚 、多层膜厚 。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness 、TTV 、LTV 、BOW

2023-10-18 09:09 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000晶圆翘曲度几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。仪器通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV

2025-03-07 16:19 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000晶圆表面形貌量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。 

2025-04-11 11:11 中图仪器 企业号

MSA量测系统评估 量测系统评估的准备 计量值量规 结果分析 .................

2010-09-11 17:02

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000高精度晶圆厚度几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV

2025-02-11 14:01 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000晶圆微纳三维形貌量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。可广泛应用于衬底制造

2024-12-02 11:20 中图仪器 企业号

摘要：本文简单介绍OpenHarmony轻量系统移植，会分多篇

2022-02-25 12:14

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000无图晶圆厚度翘曲量测系统可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到

2025-06-16 15:08 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000晶圆硅片表面3D量测系统采用光学白光干涉技术、精密 Z 向扫描模块和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大

2024-10-25 16:46 中图仪器 企业号