芯片透射电镜测试,量子阱 位错,膜厚分析,芯片解剖
2022-05-12 18:03
透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向
2017-12-12 15:04
散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。 透射电镜TEM原理 博仕检测工程师对客户指定样品区域内定点制备高质量的透射电子显微镜(TEM) 样品 聚焦离
2023-08-29 14:54
透射电子显微镜(简称透射电镜)以被高压加速后的高能电子束为入射光源,利用电子束与物质的相互作用,对物质的微结构进行成像与分析的一种仪器。
2022-07-27 15:47
最近收到老师同学们的许多问题,其中大家最想要了解的问题是“如何在透射电镜下判断位错类型(螺位错、刃位错、混合位错)”。在此,为了能快速理解并分析,我整理了三个问题,希望能帮助到大家,以下见解如有错误,请大家批评指正。
2023-11-13 14:37
传统的透射电镜(TEM)技术往往只能提供材料在静态条件下的结构信息,无法满足科研人员对材料在实际应用环境中动态行为的研究需求。为了克服这一局限性,原位TEM技术应运而生。
2025-06-19 16:28