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透射电子显微镜（TEM，TransmissionElectronMicroscope），简称透射电镜，是一种以波长极短的电子束作为照明源的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。透射电子显微镜的工作原理

2025-03-06 17:18 金鉴实验室 企业号

透射电镜的工作原理透射电镜是基于电子束与超薄样品相互作用。它利用电子加速枪产生高能电子束，经过电磁透镜聚焦和准直后照射到超薄样品上。样品中不同区域的原子对电子的散射和吸收程度不同，导致透过样品后

2025-05-19 15:27 金鉴实验室 企业号

透射电镜的样品种类透射电镜（TEM）的样品类型多样，涵盖了粉末试样、薄膜试样、表面复型和萃取复型等多种形式。薄膜试样则侧重于研究样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等。表面复型

2025-04-16 15:17 金鉴实验室 企业号

几乎任何与材料相关的领域都要用到透射电镜，而最常用的三大透射电镜是：普通透射电子显微镜（TEM）、高分辨透射电子显微镜（HRTEM）和扫描

2025-08-05 15:36 金鉴实验室 企业号

传统的透射电镜（TEM）技术往往只能提供材料在静态条件下的结构信息，无法满足科研人员对材料在实际应用环境中动态行为的研究需求。为了克服这一局限性，原位TEM技术应运而生。

2025-06-19 16:28

最近收到老师同学们的许多问题，其中大家最想要了解的问题是“如何在透射电镜下判断位错类型(螺位错、刃位错、混合位错)”。在此，为了能快速理解并分析，我整理了三个问题，希望能帮助到大家，以下见解如有错误，请大家批评指正。

2023-11-13 14:37

透射电镜（TEM）简介透射电子显微镜（TransmissionElectronMicroscope，TEM）自1932年左右问世以来，便以其卓越的性能在微观世界的研究中占据着举足轻重的地位。它利用

2025-01-21 17:02 金鉴实验室 企业号

透射电子显微镜（TEM）是一种利用电子束穿透超薄样品以获取高分辨率图像的技术，它在材料科学、生物学和物理学等多个学科领域内扮演着至关重要的角色。TEM能够揭示材料的微观结构，包括形貌、晶体结构、缺陷

2024-11-08 12:33 金鉴实验室 企业号

聚焦FIB技术：微纳尺度加工的利器聚焦离子束（FIB）技术以其卓越的精确度在微观加工领域占据重要地位，能够实现从微米级到纳米级的精细加工。金鉴实验室在这一领域提供专业的FIB测试服务，帮助客户在微观加工过程中实现更高的精度和效率。FIB技术的关键部分是其离子源，大多数情况下使用的是液态金属离子源，而镓（Ga）由于其较低的熔点、较低的蒸气压以及卓越的抗氧化特性

2024-11-11 23:23 金鉴实验室 企业号

工具。透射电镜的工作原理与技术优势透射电子显微镜的工作原理基于高能电子束的穿透与电磁透镜的成像。它利用高能电子束穿透极薄的样品，通过电磁透镜系统对透射电子进行聚焦

2025-03-25 17:10 金鉴实验室 企业号