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  • 高磁粉末 透射电镜

    高磁粉末 透射电镜(材料中,含有铁、钴、镍的粉末样品,能被磁铁吸起来)

    2019-05-27 10:35

  • 透射电镜(TEM)

    `1.设备型号TF20 场发射透射电镜,配备能谱仪 2.原理透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束

    2020-01-15 23:06

  • 透射电镜经典教材!

    各位前辈,我刚参加工作,以后要负责TEM,现在想找一些相关的书籍看一下,请问能给我推荐一些透射电镜的经典教材吗?最好是中文版本的,对于初学者好接受一些~多谢!

    2019-11-12 10:38

  • 影响扫描电镜(SEM)的几大要素?

    ~20,000倍,介于光学显微镜和透射电镜之间,即扫描电镜弥补了光学显微镜和透射电镜放大倍数的空挡。景深 景深是指焦点前后的一个距离范围,该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求,可以成清晰的图像;也即,景深

    2019-07-26 16:54

  • 二次电子探测器具体是什么东西呢

    们脱坑一个帮助,文笔不好,大家见谅!一:扫描电子显微镜由于透射电镜是TE进行成像的,这就要求样品的厚度必须保证在电子束可穿透的尺寸范围内。为此需要通过各种较为繁琐的样品制备手段将大尺寸样品转变到透射电镜可以接受的程度。能否直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像

    2021-07-29 07:49

  • 聚焦离子束应用介绍

    Pad在复杂IC线路中任意位置引出测试点, 以便进一步使用探针台(Probe- station) 或 E-beam 直接观测IC内部信号。4.FIB透射电镜样品制备这一技术的特点是从纳米或微米尺度的试样

    2020-02-05 15:13

  • IC设计

    像以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供系统安装、维修、技术升级换代、系统零配件耗材以及应用开发和培训。 技术服务项目:1、Decap芯片开封2、IC芯片电路修改3

    2013-12-18 17:00

  • 如何找到专业做FIB技术的?

    )技术:截面分析、芯片开封、芯片线路修改、二次电子像以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供系统安装、维修、技术升级换代、系统零配件耗材以及应用开发和培训。 技术服务项目:1

    2013-12-18 15:38

  • FIB线路修改

    Decap,IC芯线路修改,截面分析,透射电镜样品制备等。http://ionbeamtech.com/service.html有相关需求或相关方面问题可联系:010-58856687-664lisa

    2013-10-24 17:16

  • 专业FIB技术服务

    时间,增加产品成品率。 我们将为研究人员提供,截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修,系统安装,技术升级换代,系统耗材, 以及应用开发和培训。

    2013-09-03 14:41