缺陷检测是工业生产过程中的关键环节，其检测结果的好坏直接影响着产品的质量。而在现实场景中，但产品瑕疵率非常低，甚至是没有，缺陷样本的不充足使得需要深度学习缺陷检测模型准确率不高。如何在
2023-06-26 09:49
测试的主要成果为测试报告，通常也称之为问题报告单或缺陷记录。缺陷跟踪管理系统主要完成对缺陷报告的记录、分析和状态更新等管理。一个完善的缺陷跟踪管理系统对于测试的成功实施
2018-02-12 17:14
焊接是大型安装工程建设中的一项关键工作，其质量的好坏、效率的高低直接影响工程的安全运行和制造工期。由于技术工人的水准不同，焊接工艺良莠不齐，容易存在很多的缺陷。现整理缺陷的种类及成因，以减少或防止焊接缺陷的产生，提高
2019-05-10 11:15
钻孔质量缺陷分为钻孔缺陷和孔内缺陷；钻孔缺陷为漏孔堵孔、多孔、孔径错、偏孔及断钻头、未穿透等；孔内缺陷分为铜箔和基材
2020-06-29 15:22
锻件折叠缺陷主要是由于在锻造的过程中，金属发生部分氧化、局部金属发生变形、金属原材料不均匀等导致金属内部发生疲劳破坏，对于管接头锻造件表现为圆柱面产生较大裂缝。在检测系统中，折叠缺陷在检测工位五进行检测，相机曝光度设为26300，现场采集的图片如下图所示。
2022-09-19 16:26
SiC晶体中存在各种缺陷，对SiC器件性能有直接的影响。研究清楚各类缺陷的构成和生长机制非常重要。本文带你了解SiC的晶体缺陷及其如何影响SiC器件特性。
2024-11-14 14:53
方法多采用传统机器视觉算法，通过图像形态学处理与特征提取进行缺陷识别，往往需要根据不同形态的缺陷特征，设计不同的特征提取与识别算法。铝型材表面缺陷形态不规则、位置随机且大小不一，采用传统机器视觉
2023-10-08 15:30
电路板孔可焊性不好，将会产生虚焊缺陷，影响电路中元件的参数，导致多层板元器件和内层线导通不稳定，引起整个电路功能失效。
2023-06-10 14:50
半导体晶体在生长和加工过程中会产生多种结构缺陷，这些缺陷对集成电路（IC）器件的性能和合格率有着重要影响。因此，对晶体缺陷的观察、检测及研究至关重要。硅作为半导体材料的重要代表，其晶体
2024-12-27 09:24
