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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000系列Wafer晶圆厚度量测系统采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化

2025-05-27 13:54 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷

2024-11-29 14:30 中图仪器 企业号

型号：SJ6000系列 品牌：中图仪器

中图仪器SJ6000机床倾斜轴线性角度激光干涉测量仪非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复

2024-10-14 14:43 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆Warp翘曲度量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷

2024-05-31 10:35 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆厚度量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1

2024-11-14 13:42 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中图仪器

WD4000晶圆Warp翘曲度量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI

2025-05-20 14:02 中图仪器 企业号

型号：CH系列 品牌：

影像测量仪器适用于以二维平面测量为目的的一切应用领域，但主要还是用在卡尺、角度尺很难测量到或根本测量不到的，但在装配中起重要作用的零部件尺寸、角度等测量中。  中图仪器影像测

2022-08-15 17:22 中图仪器 企业号

型号：SYSA 品牌：

LED 报警式单轴倾角传感器是测量单轴角度变化量，将变化量转换成 0 到 5V输出，预设 6°倾角报警功能，当被测物体超过预设角度阀值，外壳上面的 LED 灯开始进入红色和报警状态。客户可以通过针孔

2025-03-07 15:49 上海允申自动化科技有限公司 企业号

型号：CH系列 品牌：

中图仪器CH系列3d光学影像测量仪作用于卡尺、角度尺很难测量到或根本测量不到的，但在装配中起重要作用的零部件尺寸、角度等测量中。在功能上配合探针和激光组的使用，传统影像测量与激光测量技术相结合，可以

2022-08-25 15:37 中图仪器 企业号

型号：图像测<b class='flag-s-7'>量仪</b>IMAGE 3 MAX 品牌：

 图像测量仪IMAGE 3 MAX搭载普密斯8055点光谱共焦传感器，测量高度，1秒内完成50个尺寸的检测，消除人为误差，任何人都能得到相同测量结果，一键测量，一键输出报表。 

2023-03-24 14:22 普密斯光学 企业号