FT测试，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，对封装好了的每一个chip进行测试，是为了把坏的chip挑出来，检验
2023-08-01 15:34
芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系统级SL
2023-06-09 16:25
后缀.slt是什么文件。
2011-05-25 20:16
为什么我在ISE 14.4中没有看到以下设备1）Artix-7 SL FPGA2）Artix-7 SLT FPGA
2019-10-29 07:42
; // 容量空间大小}SLT;// 尾插尾删，头插头删void SeqListPushBack(SLT* psl, SQDataType x){assert(psl
2022-09-14 11:22
对于贴片的芯片怎么样测试，不能焊上去测试，如何知道它的真假
2011-06-29 13:06
用好芯片去测试其他的芯片会有什么结果呢？用坏芯片去测试其他的芯片会又会有
2021-11-02 09:06
基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理是什么？扫描设计测试的实现过程是怎样的？基于扫描的DFT对芯片测试的影响有哪些？
2021-05-06 09:56
芯片为什么要做测试？ 因为在芯片在制造过程中，不可避免的会出现缺陷，芯片测试就是为了发现产生缺陷的
2023-06-08 15:47
如何对EEPROM芯片的读写速度进行测试呢？如何对EEPROM芯片的全片有效性进行测试呢？
2022-02-24 07:53
