本文采用恒定温度应力加速寿命试验对功率VDMOS的可靠性进行了研究，得到较为完整的可靠性数据，并分析得到引起其漏源电流IDS退化的主要失效机理是栅极击穿，从而为功率VDMOS类型器件的加工制造及应用等方面提供有价值的数据。
2021-04-14 06:37
IDS测试目的及指标是什么IDS测试环境有哪几种？怎么搭建软件平台进行IDS测试？
2021-04-09 06:01
在保障网络的安全性时，入侵检测系统已经成为必选的技术和手段，因为它比起其他的安全技术存在着很多优势。用户在选用IDS时，总是从各自不同的需要来考虑。要衡量IDS的优劣，就需要明确IDS应该具备
2019-08-19 06:55
74HC4051失效后，输入管脚电压无法拉低到0V;(4051输入电压默认上拉到2V上拉电阻47K，芯片失效后输入管脚只能拉低到1V，不能到0V)，求高手指点
2019-09-07 16:18
瑕疵原因之分析服务C/P , F/T ,PCBA 等流程后之样品分析服关于宜特:iST宜特始创于1994年的***，主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯
2018-08-16 10:42
我门有一个产品里有音频功放，在用的过程中，发现电源部分烧坏了，经过分析是音频功放芯片（PAM8403）正负极短路，换一个芯片就正常了，哪位能帮忙分析一下为什么芯片会失效
2017-04-21 13:26
请大佬看一下我这个LM5112驱动碳化硅MOS GC3M0065090D电路。负载电压60V，电路4A以下时开关没有问题，电流升至5A时芯片失效，驱动输出电压为0。 有点无法理解，如果电流过大为什么会影响驱动芯片的性
2025-03-17 09:33
明确其失效模式，失效模式是指失效的外在直观失效表现形式和过程规律，通常指测试观察到的失效现象、
2020-08-07 15:34
想做一个关于IDS4004的仿真，找不到元件，自己封装能实现吗？
2016-03-17 10:17
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-22 14:58 编辑 最近有RM48芯片做的产品，需要对它的可靠性进行评估，但是如何获得它的失效率λ故障覆盖率呢？只知道这个芯片满足SIL3等级，SIL3PFD 10
2018-05-22 07:30
