本文采用恒定温度应力加速寿命试验对功率VDMOS的可靠性进行了研究，得到较为完整的可靠性数据，并分析得到引起其漏源电流IDS退化的主要失效机理是栅极击穿，从而为功率VDMOS类型器件的加工制造及应用等方面提供有价值的数据。
2021-04-14 06:37
LED芯片作为LED光源最核心的部件，其质量决定着产品的性能及可靠性。芯片制造工艺多达数十道甚至上百道，结构复杂，尺寸微小（微米级），任何一道工艺或结构异常都会导致芯片失效
2020-10-22 09:40
LED芯片作为LED光源最核心的部件，其质量决定着产品的性能及可靠性。芯片制造工艺多达数十道甚至上百道，结构复杂，尺寸微小（微米级），任何一道工艺或结构异常都会导致芯片失效
2020-10-22 15:06
IDS测试目的及指标是什么IDS测试环境有哪几种？怎么搭建软件平台进行IDS测试？
2021-04-09 06:01
目前，随着现代生活中的人们对产品质量和可靠性要求不断提高，芯片的失效分析、可靠性分析也越来越得到关注和重视，失效分析是通过对现场使用失效样品、可靠性试验
2013-06-24 17:04
在保障网络的安全性时，入侵检测系统已经成为必选的技术和手段，因为它比起其他的安全技术存在着很多优势。用户在选用IDS时，总是从各自不同的需要来考虑。要衡量IDS的优劣，就需要明确IDS应该具备
2019-08-19 06:55
，加速材料老化，使LED光源快速失效。失效模式的物理机理LED灯珠是一个由多个模块组成的系统。每个组成部分的失效都会引起LED灯珠失效。 从发光
2018-02-05 11:51
(Emission Microscope)，主要侦测芯片加电 后内部模块失效所释放出的光子，可被观测的失效缺陷包括漏电结（Junction Leakage）、接触毛刺（Contact Spiking）、热电子
2020-04-07 10:11
标题：芯片失效分析方法及步骤目录：失效分析方法失效分析步骤失效分析案例失效
2020-04-14 15:08
的功率型器件而言，现在一般采用融点焊锡丝，焊锡拍扁成型，芯片放置，焊锡冷却成型等几个步骤来实现粘片工艺。我们发现器件生产中或者器件可靠性的多种失效模式都产生于粘片工艺。我们认为以下缺陷与粘片工艺有关
2020-01-10 10:55
