（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高
2011-12-15 09:32
量也大为减小.DFT与FFT相比还具有变换点数或采样率选择更灵活、实时性更好、更容易控制溢出和动态范围、运算编程简单、可方便地在非DSP芯片中编程实现等优点.因此在实际应用中可以从具体条件出发
2014-05-22 20:43
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试
2021-07-23 07:28
dft可测试性设计，前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器总结...
2021-07-22 09:10
实验二 FFT与DFT计算时间的比较及圆周卷积代替线性卷积的有效性实验：一 实验目的1：掌握FFT基2时间（或基2频率）抽选法，理解其提高减少乘法运算次数提高运算速度的原理。2：掌握FFT圆周卷积
2011-12-29 21:52
本帖最后由 mr.pengyongche 于 2013-4-30 03:26 编辑 两单频复指数信号的数字频率分别为π4
2012-11-06 11:47
数字芯片设计流程：功能验证之前与工艺库没多大联系，验证芯片设计的功能是否正确，针对抽象的代码进行功能验证理想值。一致性验证确保生成的网表和代码设计功能一致；DFT之后是数字后端。静态时序分析，从逻辑
2021-11-10 06:14
。Backend design flow后端设计流程 ：1、DFTDesign ForTest，可测性设计。芯片内部往往都自带测试电路，DFT的目的就是在设计的时候就考虑将来的测试。DFT的常见
2020-03-20 10:27
design flow后端设计流程：1、DFTDesign ForTest，可测性设计。芯片内部往往都自带测试电路，DFT的目的就是在设计的时候就考虑将来的测试。DFT的常见方法就是，在设计中插入扫描链，将非
2020-02-25 14:44
2021-09-08 07:17
