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型号：NSG2136 品牌：

NSG2136 700V带使能和故障报告的三相半桥MOSFET驱动芯片  一、概述NSG2136是N型高压、高速功率MOSFET/IGBT高低侧三相栅极驱动芯片，包含三路独立的半

2024-11-15 16:21 东莞市中铭电子 企业号

型号：大规模集成电路<b class='flag-s-7'>芯片</b> 品牌：广电计量

服务范围大规模集成电路芯片检测项目（1）无损分析：X-Ray、SAT、OM 外观检查。（2）电特性/电性定位分析：IV 曲线量测、Photon Emission、OBIRCH

2024-03-14 16:12 广电计量 企业号

型号：NSG21364 品牌：

NSG21364 700V带使能和故障报告的三相半桥IGBT驱动芯片 一、概述NSG21364是N型高压、高速功率MOSFET/IGBT高低侧三相栅极驱动芯片，包含三路独立的半桥驱动电路

2024-11-15 16:18 东莞市中铭电子 企业号

型号：电子元器件失效<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

服务范围IGBT、IC集成电路、微机电器件检测标准GJB548微电子器件试验方法和程序检测项目（1）常见检测项⽬：3DX 射线检查、声学扫描检查、开封、IC 取芯片、芯片去层

2024-03-15 17:34 广电计量 企业号

型号：IC<b class='flag-s-7'>芯片</b>开封试验 品牌：广电计量

开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

2024-01-29 21:57 广电计量 企业号

型号：率器件失效根因<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

基本介绍功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进

2024-03-13 16:26 广电计量 企业号

型号：IC<b class='flag-s-7'>芯片</b>开封试验 品牌：广电计量

开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

2024-03-14 10:03 广电计量 企业号

型号：LED失效<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件

2024-01-29 22:04 广电计量 企业号

型号：FSW43 品牌：

网络连接将数据导出到外部设备或计算机中，并生成相应的报告，报告中可以包括测量结果、图表、数据分析等内容，以便于后续的研究和验证‌23。遇到问题时，可以参考设备的用

2025-02-18 09:45 诚兴仪器 企业号

型号：LED失效<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件

2024-03-15 09:23 广电计量 企业号