电子发烧友

型号：率器件<b class='flag-s-7'>失效</b>根因<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

基本介绍功率器件可靠性是器件厂商和应用方除性能参数外最为关注的，也是特性参数测试无法评估的，失效分析则是分析器件封装缺陷、提升器件封装水平和应用可靠性的基础。广电计量拥有业界领先的专家团队及先进

2024-03-13 16:26 广电计量 企业号

型号：电子元器件<b class='flag-s-7'>失效</b><b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试（2）常⻅失效模式分析：静电损伤、过电损伤、键合

2024-03-15 17:34 广电计量 企业号

型号：功率器件<b class='flag-s-7'>失效</b>根因<b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

; QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求检测项目试验类型试验项⽬⽆损分析X 射线透视、声学扫描显微镜、⾦相显微镜电特性/电性定位分析电参数测试、IV&

2024-01-29 22:40 广电计量 企业号

型号：LED<b class='flag-s-7'>失效</b><b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件

2024-03-15 09:23 广电计量 企业号

型号：LED<b class='flag-s-7'>失效</b><b class='flag-s-7'>分析</b> 品牌：广电计量

服务范围LED芯片、LED支架、LED封装胶、银浆、键合线、LED灯珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED灯具、灯具驱动电源。检测标准● GB/T15651-1995半导体器件分立器件

2024-01-29 22:04 广电计量 企业号

型号：IC<b class='flag-s-7'>芯片</b>开封试验 品牌：广电计量

开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

2024-03-14 10:03 广电计量 企业号

型号：大规模集成电路<b class='flag-s-7'>芯片</b> 品牌：广电计量

服务范围大规模集成电路芯片检测项目（1）无损分析：X-Ray、SAT、OM 外观检查。（2）电特性/电性定位分析：IV 曲线量测、Photon Emission、OBIRCH

2024-03-14 16:12 广电计量 企业号

型号：DSC 品牌：广电计量

服务介绍随着工业生产的迅速发展，客户对高要求产品及工艺理解不一，导致产品的开裂、断裂、腐蚀、变色等失效频繁出现。企业需要分析产品失效的根本原因及机理，从而改进产品工艺，提升产品质量。 测试

2022-05-25 11:34 广电计量 企业号

型号：EMC检测 品牌：广电计量

产品与系统电磁失效分析与排故对于在应用过程中的轨道交通整车、系统或设备，由于现场的电磁环境比较的复杂，经常会导致各种棘手的电磁故障（雷击问题、信号噪声干扰、接地回路干扰、电磁脉冲、信号完整性

2024-11-18 11:01 广电计量 企业号

型号：IC<b class='flag-s-7'>芯片</b>开封试验 品牌：广电计量

开封以及机械开封等检测方法。结合OM,X-RAY等设备分析判断样品的异常点位和失效的可能原因。服务范围IC芯片半导体检测标准GB/T 37045-2018 信息技

2024-01-29 21:57 广电计量 企业号