（Integrated Circuit，简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计
2011-12-15 09:32
量也大为减小.DFT与FFT相比还具有变换点数或采样率选择更灵活、实时性更好、更容易控制溢出和动态范围、运算编程简单、可方便地在非DSP芯片中编程实现等优点.因此在实际应用中可以从具体条件出发
2014-05-22 20:43
DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使
2021-07-23 07:28
dft可测试性设计，前言可测试性设计方法之一：扫描设计方法可测试性设计方法之二：标准IEEE测试访问方法可测试性设计方法之三：逻辑内建自测试可测试性设计方法之四：通过MBIST测试寄存器总结...
2021-07-22 09:10
实验二 FFT与DFT计算时间的比较及圆周卷积代替线性卷积的有效性实验：一 实验目的1：掌握FFT基2时间（或基2频率）抽选法，理解其提高减少乘法运算次数提高运算速度的原理。2：掌握FFT圆周卷积
2011-12-29 21:52
内存芯片测试软件是一个可以电脑内存诊断程序，而且容易操作可以找出所有可能的内存问题。制作出一张可以开机的磁片。只要用这张磁片重新开机之后，就可以开始进行测试了。有各种先进的内存测试机制。
2009-10-27 09:25
本帖最后由 mr.pengyongche 于 2013-4-30 03:26 编辑 两单频复指数信号的数字频率分别为π4
2012-11-06 11:47
，在芯片设计中引入IP技术应该从提高芯片设计质量开始。可重用的设计一定是良好的设计。 我们首先应加强对当前设计的代码规范性检查、测试覆盖率检查、功能覆盖率检查、性能分析包括DF
2018-09-04 09:51
最新MDK破解版软件安装包和芯片包及详细图文教程来咯！！！欢迎使用最新MDK破解版软件安装包和芯片包及超详细图文教程如何安装KEIL51.1温馨提示1.2获取KEIL5
2022-01-10 07:09
design flow后端设计流程：1、DFTDesign ForTest，可测性设计。芯片内部往往都自带测试电路，DFT的目的就是在设计的时候就考虑将来的测试。DFT的常见方法就是，在设计
2020-02-25 14:44
