本文以KL25为例，其他型号类似，讲解如何使用芯片内部的bandgap以及ADC相结合，实现对芯片VDD电压的检测，这样可以跟踪实际VDD的电压，防止芯片电压过低。尤其适用于电源使用的是电池的情况
2016-06-06 11:47
本文就DSP芯片内部自带FLASH提出了一种自测试方法，通过两次烧写FLASH将待测空间的校验和计算出来并计入RAM中事先定义好的变量中，重新编译后生成新的目标码校验和变成第一次校验和
2012-05-16 11:43
芯片间的互连速率已经达到GHz量级，相比较于低速互连，高速互连的测试遇到了新的挑战。本文探讨了高速互连测试的难点，传统互连测试方法的不足，进而介绍了互连内建自测试(I
2010-07-31 17:00
STMCubeMX5.10版本CAN使用loopback模式自测使用芯片：STM32F103C8T6cube软件版本：5.10软件包版本为：STM32Cube FW_F1 V1.7.0
2021-12-08 21:06
当用户出现相关不适症状，陷入不就医怕耽搁病情，出门就医又担忧交叉感染的两难处境时，用AI自测机器人初步自测便成了最佳选择。
2020-02-24 14:26
AN-1180: 针对生产后自测优化视频平台
2021-03-21 03:10
±50g自测试电路图
2009-07-03 12:03
内建自测试是一种有效的测试存储器的方法。分析了NOR型flash存储器的故障模型和测试存储器的测试算法，在此基础上，设计了flash存储器的内建自测试控制器。控制器采用了一种23
2010-07-31 17:08
最近在做一个高精度的运动仪器，用到了adxl362,看文档看到selftest时候文档只是解释了什么是selftest，没讲自测偏差的范围是多少，怎么才算芯片出问题了呢？希望论坛各位工程师能帮助我解决这个疑惑，谢谢
2019-01-10 11:46
带自测功能的DDR2控制器设计，感兴趣的可以看看。
2016-01-04 15:23
