测试期间，OBIRCH 利用雷射扫瞄芯片内部连接位置，并产生温度梯度，藉此产生阻值变化，并经由阻值变化的比对，定位出芯片Hot Spot(亮点、热点)缺陷位置。OBIRCH常用于
2018-08-27 15:09
(Forward Bias)及在饱和区域操作的晶体管，可藉由EMMI定位，找热点(Hot Spot 或找亮点)位置，进而得知缺陷原因，帮助后续进一步的失效分析。EMMI侦测的到亮点、热点(Hot Spot
2018-08-22 09:20
初步漏电失效分析。金鉴工程师取失效器件5-4号样品进行光学显微镜下观察样品表面有开封残留封装胶颗粒，用酒精把芯片表面处理干净后通电测试热点分布。注：芯片表面的封装胶需清
2018-11-02 16:25
perf分析程序的热点函数解析，错过绝对后悔
2021-12-23 06:41
和短路。ESD 闭锁效应。3D封装 (Stacked Die)失效点的深度预估。芯片未开盖的故障点的定位侦测低阻抗短路(＜10ohm)的问题分析
2018-09-12 09:24
目前，随着现代生活中的人们对产品质量和可靠性要求不断提高，芯片的失效分析、可靠性分析也越来越得到关注和重视，失效分析是通过对现场使用失效样品、可靠性试验失效样品或筛选失
2013-06-24 17:04
失效分析属于芯片反向工程开发范畴。芯片失效分析主要提供封装去除、层次去除、芯片染色、
2012-09-20 17:39
材料准备: 准备一块搭载hi3861芯片的开发板, 并事先烧录好linkboy for OpenHarmony的引擎固件.案例说明: 本案例通过图形化指令调用OpenHarmony的wifi框架功能
2021-12-03 16:40
我有一片stm32的芯片，庆科的wifi模块。继电器。我利用了机智云提供的程序下载到了stm32. 我实现的功能是控制继电器的通断。可我在做的时候，wifi模块的热点手机连不上。不知道刚怎么办？最后wifi模块也连不上网。
2020-08-27 08:07
一般来说，集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免，随着人们对产品质量和可靠性要求的不断提高，失效分析工作也显得越来越重要，通过芯片失效分析，可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数
2013-01-07 17:20
