在芯片失效分析中，常用的测试设备种类繁多，每种设备都有其特定的功能和用途，本文列举了一些常见的测试
2024-08-07 17:33
探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件，被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、频率变化、
2023-05-08 10:38
IC测试原理和设备教程在内容、目的和关注点上存在显著的区别。 IC测试原理 内容 ： IC测试原理主要探讨的是对集成电路（Integrated Circuit，简称IC
2024-09-24 09:51
芯片测试的主要目的是确保芯片的质量和可靠性，以及验证芯片的设计是否符合规范和要求。具体来说，测试可以检测出
2024-05-08 16:54
物联网 (IoT） 芯片主要包括传感器芯片、嵌人式处理芯片、无线传输链接芯片等。IoT 芯片的性能/功能
2023-06-08 16:44
集成芯片测试好坏的方法主要包括以下几个步骤。
2024-03-19 16:52
