在芯片失效分析中，常用的测试设备种类繁多，每种设备都有其特定的功能和用途，本文列举了一些常见的测试设备及其特点。
2024-08-07 17:33
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两
2018-05-10 16:52
、电源管理、互联互通及系统级应用等方面的信号传输特性分析展开，如图所示。随着芯片应用技术和测试技术的发展，一些新的测试方法不断问世，这些新方法可进一步提高
2023-06-08 16:44
测试技术在国内分析仪器行业起步较晚，发展尚未成熟。本文主要介绍在线分析仪器行业中的测试基本理论、测试流程和常用的
2014-02-21 09:53
芯片测试的主要目的是确保芯片的质量和可靠性，以及验证芯片的设计是否符合规范和要求。具体来说，测试可以检测出
2024-05-08 16:54
集成芯片测试好坏的方法主要包括以下几个步骤。
2024-03-19 16:52
开关电源具有非常高的转换效率，已经成为了电源的主流产品。与此同时，环路分析测试作为其重要的测试方法也越来越被大家所使用。本文将深入介绍该测试方法的原理和应用。
2019-05-16 15:56
在芯片制造与使用的领域中，静电是一个不容小觑的威胁。芯片对于静电极为敏感，而HBM（人体模型）测试和CDM（充放电模型）测试是评估
2024-12-16 18:07
芯片制造和测试过程产生的数据量是巨大的，压倒性的，以至于变得毫无用处，除非有一种有效的方法来收集和分析它。与其他数据密集型流程一样，需要适当的大数据分析工具来帮助产品工
2023-05-24 16:27
在芯片制造过程中，测试是非常重要的一环，它确保了芯片的性能和质量。芯片测试涉及到许多专业术语这其中，CP（Chip Pr
2024-10-25 15:13
