` 本帖最后由 wwsireda 于 2013-4-22 16:27 编辑 主营产品或服务：QFP测试座; BGA测试座; QFN测试座; PLCC测试座; BGA
2013-04-22 11:54
失效分析，很多时候都需要做FIB-SEM测试，相信各位电子行业的朋友并不陌生， 大家都知道用聚焦离子束FIB切片芯片，解剖芯片内部结构 查找
2021-08-05 12:11
芯必达与上海汽车芯片工程中心于2024年4月18日正式签署了战略合作协议。这一合作旨在未来在汽车芯片设计、系统集成应用、芯片测试
2024-04-22 10:45
`芯片失效分析探针台测试简介：可以便捷的测试芯片或其他产品的微区电信号引出功能，支持微米级的
2020-10-16 16:05
以失效分析的数据作为基本数据结构，提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发信息的优化算法，提出了 芯片验证 分析
2011-06-29 17:58
芯片IC可靠性测试、静电测试、失效分析芯片可靠性验证 ( RA)芯片级预
2020-04-26 17:03
芯片透射电镜测试，量子阱 位错，膜厚分析，芯片解剖
2022-05-12 18:03
在芯片失效分析中，常用的测试设备种类繁多，每种设备都有其特定的功能和用途，本文列举了一些常见的测试设备及其特点。
2024-08-07 17:33
追求品牌效应的长远目标。 O/S测试：O/S测试主要是用业分析NG的IC原因，查明这种缺陷是客户的原因还是芯片
2008-12-01 16:07
介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两
2018-05-10 16:52
