NI发布的《2010自动化测试前景报告》 美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）于4月13日发布了《2010自动化测试
2010-04-24 11:13
集成电路芯片的测试（ICtest）分类包括：分为晶圆测试（wafertest）、芯片测试（chiptest）和封装
2021-07-14 14:31
光子集成芯片，作为光电集成领域的重要分支，近年来受到了广泛关注。其应用范围广泛，涉及通信、计算、传感等多个领域，展现出了巨大的应用前景。
2024-03-20 16:27
NI发布《2010自动化测试前景报告》--报告详述了影响多个行业的测试测量的重要创新技术 新闻发布——2010年4月——美国国家仪器有限公司（National Instru
2010-05-20 17:43
本文首先介绍了学习软件测试需要掌握的一些相关知识，其次介绍了软件测试工程师的基本素质，最后阐述了软件测试工程师的就业前景。
2018-04-23 11:27
聆思CSK6芯片性能与应用前景分析
2024-05-15 09:11
在当今的信息科技时代中，芯片产业被比喻为信息产业发展的“心脏”，即提供发展动力的核心。稳压芯片是稳定电压的，在稳压电源中用的比较多 如固定稳压芯片，在它所要求的输入电压范围内，它的输出电压是恒定的。以下对稳压
2018-05-31 15:53
在IC芯片测试中，芯片测试座起着至关重要的作用。它是连接芯片和测试设备的
2023-07-25 14:02
