探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件，被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、
2023-05-08 10:38
晶圆探针测试也被称为中间测试（中测），是集成电路生产中的重要一环。晶圆探针测试的目的就是确保在
2022-08-09 09:21
探针测试台是一种用于测试集成电路（IC）的设备，工作原理是将待测试的IC芯片
2024-02-04 15:14
晶圆探针测试也被称为中间测试（中测），是集成电路生产中的重要一环。晶圆探针测试的目的就是确保在
2023-01-04 16:11
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在测试过程中，测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测，而是透过
2023-05-11 14:35
随着集成电路的快速发展，许多电气和汽车应用都采用了大电流功能。如何安全有效地测试这类产品正在成为一个新的挑战。 我们还开发了大电流测试探针，通常用于测试大型充放电设备。
2023-01-10 08:40
在ICT或者FCT测试中，治具上的探针总归会测试到一定的寿命时候变得脏污，造成测试不通，通常的情况下也许探针本身的弹性和
2022-12-28 10:15
内部抽成真空后，对晶圆上的芯片加上压力、声、振动、液体、温度等影响因素，在这些因素环境中进行电性能 测试，对测试芯片的优劣进行判断。那么真空
2022-06-06 10:44
进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。 探针卡是应
2020-03-30 14:27
开尔文探针测试（Kelvin Probe Force Microscopy，KPFM）是一种非接触式表面电势测量技术，广泛应用于材料科学、表面科学、纳米技术和生物医学等领域。KPFM技术通过测量探针
2024-08-27 15:29
