在半导体制造领域，电气过应力（EOS）和静电放电（ESD）是导致芯片失效的两大主要因素，约占现场失效器件总数的50%。它们不仅直接造成器件损坏，还会引发长期性能衰退和可靠性问题，对生产效率与产品质量构成严重威胁。
2025-08-21 09:23
电阻器失效的常见原因多种多样，涉及化学、电气和物理等多个方面。以下是对这些原因的介绍： 一、化学因素 卤素成分附着 ：卤素成分可能来源于工业环境、海洋环境或某些化学物质
2024-10-31 09:23
在芯片失效分析中，常用的测试设备种类繁多，每种设备都有其特定的功能和用途，本文列举了一些常见的测试设备及其特点。
2024-08-07 17:33
每个产品都需要很多程序在完成检测之前，电路板上设有液晶电子产品在检测过程中，在加压环境下酒精、石英晶体容易与壳碰壳振动芯片很容易发生碰撞，导致晶体发生振动时，振动或振动停止等故障现象。？晶体失效原因
2024-08-21 11:28 Piezoman压电侠 企业号
超过其规定电压值并达到一定的能量限度而导致的一种常见的失效模式。下面的图片为雪崩测试的等效原理图，做为电源工程师可以简单了解下。
2018-05-06 09:13
你是否长时间纠缠于线路板的失效分析？你是否花费大量精力在样板调试过程中？你是否怀疑过自己的原本正确的设计？也许许多硬件工程师都有过类似的心理对话。有数据显示，78%的硬件失效原因是由于不良的焊接和错误的物料贴片造成的
2020-10-17 11:00
LED灯珠是一个由多个模块组成的系统。每个组成部分的失效都会引起LED灯珠失效。
2020-03-22 23:13
在能源危机和环境污染的大背景下，锂离子电池作为21世纪发展的理想能源，受到越来越多的关注。但锂离子电池在生产、运输、使用过程中会出现某些失效现象。而且单一电池失效之后会影响整个电池组的性能和可靠性，甚至会导致电池组停止工作或其他安全问题。
2018-07-23 09:13
