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  • 时钟信号沟与测试点位置有关吗

    的沉痛心情找到高速先生时,高速先生丝毫不敢大意,一番分析确认之后,给出的答复却让客户喜出望外:测试点的时钟沟是真实存在的,但是芯片得到的时钟信号质量却没有问题,简而言之,单板的时钟信号没问题,可以

    2020-11-25 19:42

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    。但现实中,大型ASIC和SoC设计常常需要使用很多SRAM,简单采用这种MBIST方法会生成很多块MBIST控制逻辑,从而增大芯片面积,增加芯片功耗,甚至加长芯片

    2019-10-25 06:28

  • 关于串口环测试失败问题

    关于串口环测试问题我目前对283的板子进行串口环测试,失败。测试如下:1. 5V供电,板子加载正常,

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    2018-11-06 11:18

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    2016-01-10 16:46

  • ADF7021芯片温度读问题?

    手册中提到使用读温度功能需要满足2个条件:a.先打开ADC ON(缺省是关闭的)b.在接收状态读温度是无效的; 我们的应用要求能检测芯片温度的变化,满足条件则重新初始化ADF7021;每秒进行

    2018-12-19 09:12

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  • 芯片需要做哪些测试看了就知道

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    2020-09-02 18:07