本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现，使用FPGA作为
2021-04-30 06:13
芯片功能测试常用5种方法有板级测试、晶圆CP测试、封装后成品FT测试、系
2023-06-09 16:25
请教大虾，第一次用这个芯片，自己买了几片回来测试。如图测试条件，INH和IN端都是用直流电源供电，测试短路保护功能，OU
2016-10-08 10:15
作者：王烈洋 黄小虎 占连样 珠海欧比特控制工程股份有限公司随着电子技术的飞速发展， 存储器的种类日益繁多，每一种存储器都有其独有的操作时序，为了提高存储器芯片的测试效率，一种多功能存储器
2019-07-26 06:53
FT测试，英文全称Final Test，是芯片出厂前的最后一道拦截。测试对象是针对封装好的chip，对封装好了的每一个chip进行测试，是为了把坏的chip挑出来，检验
2023-08-01 15:34
存储器芯片是什么？存储器可分为哪几类？存储器术语的定义有哪些？如何去测试存储器芯片的功能？测试向量是什么？它的执行方式以
2021-04-15 06:18
目前需要对一款电源芯片进行功能性能测试，主要从哪方面入手呢？
2016-10-19 18:40
介绍目前，非信令技术正方兴未艾，主要用于缩减制造测试时间和成本，并且适用于广泛的技术。芯片组厂商正在想方设法为手机制造商提供此类能力。因此开发针对特定芯片组的专用测试模
2019-09-27 07:07
基于扫描的DFT方法扫描设计的基本原理是什么？扫描设计测试的实现过程是怎样的？基于扫描的DFT对芯片测试的影响有哪些？
2021-05-06 09:56
请问EVAL-AD2S1210SDZ评估板有哪些功能，能否测试ADS1210芯片的角度精度 比如输入一个30°的旋变信号，能否通过PC读到AD2S1210输出角度。
2023-12-04 06:41
